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日期：2024-03-14 13:43 瀏覽次數(shù)： 作者：來高科技
高精度陶瓷薄片平面度檢測——來高科技三維掃描儀助力無誤檢測 分享到：

 

導(dǎo)語

隨著陶瓷材料在工業(yè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，用戶對精密陶瓷薄片的平面度檢測要求越來越高。本文將介紹來高科技三維掃描儀在高精度陶瓷薄片平面度檢測中的應(yīng)用以及為工業(yè)裝備精密檢測提供的三維解決方案。

案例信息

 
 
 
 
 

產(chǎn)品訴求：三維掃描精密陶瓷薄片，提供色譜高度圖，標(biāo)注多點(diǎn)翹曲偏差

 

樣件信息：樣件厚度小于1mm，材質(zhì)硬且脆

 

檢測難點(diǎn)：檢測精度要求很高，小于0.01mm

 

三維掃描儀公司：來高科技（天津）有限公司

 

設(shè)備型號：I9三維掃描儀

 

三維掃描儀軟件系統(tǒng)：來高三維掃描軟件V3.0 

 




 

 
 

背景描述

BACKGROUND DESCRIPTION

精密陶瓷結(jié)構(gòu)件具有優(yōu)良的性能，廣泛應(yīng)用于粉體粉碎、紡織、造紙等工業(yè)領(lǐng)域。然而，在生產(chǎn)過程中，由于材料特性等因素，陶瓷零件會存在平面度不符合要求的情況。為了保證工業(yè)機(jī)械設(shè)備在嚴(yán)苛環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行，對陶瓷薄片平面度進(jìn)行準(zhǔn)確檢測顯得尤為重要。

Techlego

來高科技解決方案

針對陶瓷薄片平面度檢測需求，來高科技（天津）有限公司選用1200萬像素的I9三維掃描儀，配備來高企業(yè)版三維掃描軟件V3.0。這一組合設(shè)備具有高精度、高效率的特點(diǎn)，能夠滿足陶瓷薄片檢測的高質(zhì)量要求。



通過對整片樣品劃痕面的翹曲進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)測試，可以有效驗(yàn)證掃描的一致性，確保檢測結(jié)果的可靠性。三維掃描儀高精度點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集算法和三維檢測軟件強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析能力，為陶瓷薄片的平面度檢測提供了可靠的技術(shù)支持。
 
 

案例總結(jié)

CASE SUMMARY

隨著市場需求的不斷增長，對陶瓷薄片等精密零件的高精度平面度檢測要求也越來越高。傳統(tǒng)的手動檢測方式在面對大批量產(chǎn)品時已無法滿足需求，三維全尺寸檢測技術(shù)為解決這一難題提供了新的手段。其中，來高科技1200萬像素的I9三維掃描儀，為工業(yè)裝備結(jié)構(gòu)件的精密檢測提供了更為可靠和高效率的解決方案，成為行業(yè)中的當(dāng)先者，廣受用戶青睞。


 
 
 

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